Код "ТН ВЭД 9027809309" — Прочая аппаратура для измерений физических свойств полупроводниковых материалов или подложек жидкокристаллических устройств, или нанесенных изолирующих и проводящих слоев в процессе изготовления ...
- Ответственный за поддержку классификатора: Федеральная таможенная служба РФ
— Код XVIII — РАЗДЕЛ XVIII. Инструменты и аппараты оптические, фотографические, кинематографические, измерительные, контрольные, прецизионные, медицинские или хирургические; часы всех видов; музыкальные инструменты; их части и принадлежности
— Код 90 — Инструменты и аппараты оптические, фотографические, кинематографические, измерительные, контрольные, прецизионные, медицинские или хирургические; их части и принадлежности
— Код 9027 — Приборы и аппаратура для физического или химического анализа (например, поляриметры, рефрактометры, спектрометры, газо- или дымоанализаторы); приборы и аппаратура для измерения или контроля вязкости, пористости, расширения, поверхностного натяжения или…
— Код 902780930 — Аппаратура для измерения физических свойств полупроводниковых материалов или подложек жидкокристаллических устройств, или нанесенных изолирующих и проводящих слоев в процессе изготовления полупроводниковых пластин или жидкокристаллических устройст
— ТН ВЭД 9027809309 — Прочая аппаратура для измерений физических свойств полупроводниковых материалов или подложек жидкокристаллических устройств, или нанесенных изолирующих и проводящих слоев в процессе изготовления ...
Расшифровка ТН ВЭД 9027809309:
| Код ТН ВЭД | Наименование |
|---|---|
| 9027809309 | Прочая аппаратура для измерений физических свойств полупроводниковых материалов или подложек жидкокристаллических устройств, или нанесенных изолирующих и проводящих слоев в процессе изготовления ... |
Уровень выше: ТН ВЭД — Аппаратура для измерения физических свойств полупроводниковых материалов или подложек жидкокристаллических устройств, или нанесенных изолирующих и проводящих слоев в процессе изготовления полупроводниковых пластин или жидкокристаллических устройст
| ТН ВЭД | Аппаратура для измерения физических свойств полупроводниковых материалов или нанесенных изолирующих и проводящих слоев в процессе изготовления полупроводниковых пластин |
| ТН ВЭД | Прочая аппаратура для измерений физических свойств полупроводниковых материалов или подложек жидкокристаллических устройств... |